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测量显微镜的调节和使用步骤

来源:  发布时间:2018-12-06   点击量:773

1.测量显微镜的采光。调整反光镜的角度,使从目镜中看到明亮的视场。

2.调叉丝像清晰。叉丝是用于测量的准线,所以在使用之前,必须改变目镜和叉丝之间的距离,使得叉丝清晰。方法是转动目镜筒的端盖(目镜就安装在此盖上),使从目镜中观察到的叉丝清晰(即叉丝成虚像在明视距离上)。用目镜观察时,两眼都要睁开,两眼离开目镜适当距离,以能轻松地看清叉丝和整个视场为宜。

3.调待测物的像清晰。把待测物放在载物台的中心,旋转X轴测微器与Y轴测微器使待测物与物镜对准。从侧面观察,旋动调焦手轮使整个镜筒下移接近但不能接触待测物。然后反向旋动调焦手轮使镜筒上升,同时从目镜中观察,直至看清物体的像,此步调节称为调焦。

注意:从目镜中观察时,切不可错调手轮,以免物镜与待测物接触而损坏仪器和待测物。测圆的直径时,务必要调焦到圆的边缘清晰,调焦正确时,待测物准确成像在叉丝平面上。

如略有偏差,很难直接判断,此时可左右晃动眼睛,观察物像与叉丝有无相对移动,如有,则说明物体成像面与叉丝平面不重合,这种现象就是视差(关于视差可参见2.2望远镜的介绍)。此时需要继续细致的调焦,直至消除视差才能进行下一步调节。

4.调叉丝方位。其目的是使横竖叉丝分别与载物台的x轴和y轴平行。先粗调,松开目镜的止动螺丝,转动目镜筒,使从目镜中观察到的叉丝尽量横平竖直。再细调,(1)用x、y测微器将物像调到叉丝交点处,且与横叉丝相切,如图4.1.7(a);(2)用x轴测微器将物像调到视场边缘,如图4.1.7(b)(或物像下移至与横叉丝相割);(3)微转目镜筒,使物像与横叉丝相切,如图4.1.7(c)。重复(1)、(2)、(3)调节,直至旋动x轴测微器时,物像一侧始终与横叉丝相切移动为止。调好后,旋紧目镜的止动螺丝。

测量显微镜的调节和使用步骤

5.测量(用X轴测微器):(1)转动x轴测微器,使物像与竖叉丝相离,如图4.1.8(a)。(2)反向旋转X轴测微器,使物像靠拢竖直叉丝,直到物像的一侧与竖直叉丝相切为止,如图4.1.8
(b),记录X轴测微器的读数x,。(3)沿同一方向转动X轴测微器,使物像越过竖直叉丝在另一侧与竖直叉丝相切,如图4.1.8(c),记录X轴测微器的读数x,。则被测长度(圆的直径)为d=X,-X,

5.测量(用X轴测微器):(1)转动x轴测微器,使物像与竖叉丝相离,如图4.1.8(a)。(2)反向旋转X轴测微器,使物像靠拢竖直叉丝,直到物像的一侧与竖直叉丝相切为止,如图4.1.8 (b),记录X轴测微器的读数x,。(3)沿同一方向转动X轴测微器,使物像越过竖直叉丝在另一侧与竖直叉丝相切,如图4.1.8(c),记录X轴测微器的读数x,。则被测长度(圆的直径)为d=X,-X,

6.注意:(1)测量时,中途(由图s(a)→(b)→(c))不允许改变x轴测微器的转动方向,这是为了避免回程误差。在相同条件下,计量器具正反行程在同一点示值上被测量值之差的绝对值,叫回程误差。由于工艺的原因,测微螺栓(与X轴测微鼓轮相连)和螺母(与载物台相连)之间不是紧密配合的,如图4.1.9,当X轴测微器改变转动方向时,总有一段空转过程(即鼓轮空转而不拖动载物台),在此过程中x轴测微器读数的改变不能反映物像与竖直叉丝的相对移动,因而导致回程误差。

5.测量(用X轴测微器):(1)转动x轴测微器,使物像与竖叉丝相离,如图4.1.8(a)。(2)反向旋转X轴测微器,使物像靠拢竖直叉丝,直到物像的一侧与竖直叉丝相切为止,如图4.1.8 (b),记录X轴测微器的读数x,。(3)沿同一方向转动X轴测微器,使物像越过竖直叉丝在另一侧与竖直叉丝相切,如图4.1.8(c),记录X轴测微器的读数x,。则被测长度(圆的直径)为d=X,-X,

(2)X轴测微螺旋的螺距为1毫米,因此鼓轮分度为100,读数的有效数字与千分尺相同。

使用前应核对一下当鼓轮示值为零时,主尺基准线是否恰好与某一毫米刻线对齐。若不齐,属于安装问题。使用中注意不要读错一毫米;更不要在主尺上反向读数,如将27毫米多读成32毫米多。

7.综上所述,测量显微镜是用光学方法把待测物放大成像,以叉丝为准线,用测微螺旋带动待测物平移,读出欲测长度首末两端的绝对坐标值,(零点是任意的,与待测长度无关)求出其相对差值。


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